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热分析装置
专利权人:
精工电子纳米科技有限公司
发明人:
山田健太郎
申请号:
CN201010287191.6
公开号:
CN102004117A
申请日:
2010.09.01
申请国别(地区):
中国
年份:
2011
代理人:
何欣亭`徐予红
摘要:
在热分析装置中,在设置测定试样的观察用窗的情况下,由于来自该观察窗部的热的出入产生的影响,测定精度受到影响。为此,用透明构件将观察用窗做成叠层构造,而且在该叠层间设置间隙层,使热难以出入。此外,通过在该间隙层采用隔热性高的气体或固体,进一步提高该观察窗的隔热性。由此,可以一边肉眼观察热分析装置中的测定试样的加热等产生的变化,一边得到更加高精度的热变化或物理变化。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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