热分析装置
- 专利权人:
- 精工电子纳米科技有限公司
- 发明人:
- 山田健太郎
- 申请号：
- CN201010287191.6
- 公开号：
- CN102004117A
- 申请日:
- 2010.09.01
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2011
- 代理人:
- 何欣亭`徐予红
- 摘要：
- 在热分析装置中，在设置测定试样的观察用窗的情况下，由于来自该观察窗部的热的出入产生的影响，测定精度受到影响。为此，用透明构件将观察用窗做成叠层构造，而且在该叠层间设置间隙层，使热难以出入。此外，通过在该间隙层采用隔热性高的气体或固体，进一步提高该观察窗的隔热性。由此，可以一边肉眼观察热分析装置中的测定试样的加热等产生的变化，一边得到更加高精度的热变化或物理变化。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
