Systems and methods for processing sensor data and self-calibration are provided. In some embodiments, systems and methods are provided which are capable of calibrating a continuous analyte sensor based on an initial sensitivity, and then continuously performing self-calibration without using, or with reduced use of, reference measurements. In certain embodiments, a sensitivity 110 of the analyte sensor is determined by applying an estimative algorithm 120 that is a function of certain parameters. Also described herein are systems and methods for determining a property of an analyte sensor using a stimulus signal. The sensor property can be used to compensate sensor data for sensitivity drift, or determine another property associated with the sensor, such as temperature, sensor membrane damage, moisture ingress in sensor electronics, and scaling factors.L'invention concerne des systèmes et des procédés destinés à traiter des données de capteur et à réaliser un auto-étalonnage. Dans certains modes de réalisation, les systèmes et procédés décrits peuvent étalonner un capteur d'échantillon à analyser continu en prenant comme base une sensibilité initiale, puis réaliser en continu un auto-étalonnage sans utiliser de mesures de référence ou en en utilisant très peu. Dans certains modes de réalisation, la sensibilité (110) du capteur d'échantillon à analyser est déterminée par l'application d'un algorithme d'estimation (120) qui dépend de certains paramètres. L'invention se rapporte également à des systèmes et procédés qui permettent de déterminer une propriété d'un capteur d'échantillon à analyser au moyen d'un signal de stimulus. La propriété du capteur peut servir à compenser la dérive de facteur d'échelle dans les données de capteur ou à déterminer une autre propriété associée au capteur, telle que la température, les dégâts subis par la membrane du capteur, la pénétration d'humidité dans les circuits électroniques du capteur ou des facteurs d'échelle.
