System and method for measuring concentration in sample material using orbital angular momentum

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专利权人:

ネックスジェン・パートナーズ・アイピー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー

发明人:

アシュラフィ、ソリーマン,リンキスト、ロジャー,アシュラフィ、ニマ

申请号：

JP2016575305

公开号：

JP6567572B2

申请日:

2015.03.06

申请国别(地区):

JP

年份:

2019

代理人:

摘要：

Signal generation circuitry generates a first signal having at least one orbital angular momentum applied thereto and applies the first signal to the sample. A detector for receives the first signal after it passes through the sample and determines the concentration of the material within the sample based on a detected value of orbital angular momentum with the first signal received from the sample.

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/