测量设备、测量方法和程序

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专利权人:

索尼半导体解决方案公司

发明人:

矶部裕史,椛泽秀年,氏家一朗,増野智经

申请号：

CN201980005197.9

公开号：

CN111328371A

申请日:

2019.20.09

申请国别(地区):

CN

年份:

2020

代理人:

摘要：

测量设备或测量方法被配置为使得信息处理设备执行以下处理:基于检测到抓握部抓握葡萄串来指定待测葡萄串;以及开始测量指定的葡萄串的颗粒数。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/