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测量设备、测量方法和程序
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专利权人:
索尼半导体解决方案公司
发明人:
矶部裕史,椛泽秀年,氏家一朗,増野智经
申请号:
CN201980005197.9
公开号:
CN111328371A
申请日:
2019.20.09
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
测量设备或测量方法被配置为使得信息处理设备执行以下处理:基于检测到抓握部抓握葡萄串来指定待测葡萄串;以及开始测量指定的葡萄串的颗粒数。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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