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測定装置
专利权人:
SHARP KABUSHIKI KAISHA
发明人:
山崎 幸生,福本 章平,高見 星司,山中 幹宏
申请号:
JPJP2013/083321
公开号:
WO2014/103736A1
申请日:
2013.12.12
申请国别(地区):
WO
年份:
2014
代理人:
摘要:
Disclosed is a measuring apparatus wherein fluctuation of fluorescence intensity due to a temperature of an excitation light source is suppressed. A measuring apparatus (1) is provided with a correcting section (15) that corrects, on the basis of a temperature of an excitation light source (11), intensity of fluorescence (4) received by means of a light receiving section (14), said temperature having been measured by means of a temperature measuring section (12).La présente invention concerne un appareil de mesure destiné à supprimer une fluctuation dintensité de fluorescence due à une température dune source de lumière dexcitation. Un appareil de mesure (1) est pourvu dune section de correction (15) qui corrige, sur la base dune température dune source de lumière dexcitation (11), une intensité de fluorescence (4) reçue au moyen dune section de réception de lumière (14), ladite température ayant été mesurée au moyen dune section de mesure de température (12).励起光源の温度に起因する蛍光の強度のばらつきを抑える。測定装置(1)は、測温部(12)により測定された励起光源(11)の温度に基づいて、受光部(14)により受光された蛍光(4)の強度を補正する補正部(15)を備える。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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