您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Observation device, endoscope device, microscope device and observation method
专利权人:
NIKON CORP;株式会社ニコン
发明人:
齋藤 直洋,藤井 透,SAITO NAOHIRO,FUJII TORU
申请号:
JP2018226625
公开号:
JP2020091320A
申请日:
2018.12.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To perform measurement in consideration of the point that the state of polarization from a sample changes depending on the irradiation direction of illumination light due to the three-dimensional distribution of birefringence of the sample. An observation device includes a light source unit that irradiates a sample with polarized light, a changing unit that changes an irradiation direction of polarized light with respect to the sample, and a detecting unit that detects at least one of reflected light and scattered light from the sample irradiated with polarized light. And an optical system for forming an image on. [Selection diagram] Figure 1【課題】試料が有する複屈折の3次元的な分布により、照明光の照射方向に応じて試料からの偏光の状態が変化する点を考慮して測定を行う。【解決手段】観察装置は、試料に偏光を照射する光源部と、試料に対する偏光の照射方向を変更する変更部と、偏光が照射された試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方を検出部に結像させる光学系と、を備える。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充