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SKIN EVALUATION METHOD AND SKIN EVALUATION DEVICE
专利权人:
FUJIFILM CORP;富士フイルム株式会社
发明人:
YOSHIDA NAOKO,吉田 那緒子,KUROIWA KARIN,黒岩 果林
申请号:
JP2013112334
公开号:
JP2014023916A
申请日:
2013.05.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a skin evaluation method capable of accurately evaluating a skin condition such as dullness and transparency.SOLUTION: A skin evaluation method includes creating a profile of a light reflectance ratio to a depth in a depth range from the cuticle to the dermis upper layer, based on an interference signal obtained from an optical coherence tomography, making an evaluation index by calculating from the created profile, a difference between a reflectance ratio R1 in a minimum point P1 and a reflectance ratio R2 in a second maximum point P2, and evaluating a skin condition based on the evaluation index.【課題】くすみおよび透明感等の肌の状態を精度よく評価することができる肌の評価方法を提供する。【解決手段】光コヒーレンストモグラフィにより得られた干渉信号に基づいて、表皮から真皮の上層までの深さ範囲における深さに対する光の反射率のプロファイルを作成し、作成されたプロファイルから極小点P1における反射率R1と第2の極大点P2における反射率R2との差分を算出して評価指標とし、この評価指標に基づいて肌の状態を評価する。【選択図】図5
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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