The plaque detection device (70) and method use an excitation source (72), a photodetector (74), and a controller (76). The excitation source (72) provides the evaluation site (80) with a wavelength-modulated light having a periodically varying wavelength centered near the wavelength corresponding to the non-linearity in the absorption and / or fluorescence excitation spectrum of the selected plaque. λex) is output. Selected plaque exhibits different spectral characteristics than unselected plaque and / or interfering species. The photodetector (74) detects light (λsite) received from the evaluation site (80), including site reflected light (λrefl) and / or site radiation (λem). The controller (76) is operatively coupled to the excitation source (72) and the photodetector (74), controls the excitation source to output wavelength modulated light, and detects the detected light (λsite) and wavelength modulation. Plaque is detected in response to at least one higher harmonic of the frequency.歯垢検出装置（７０）及び方法は、励起源（７２）と、光検出器（７４）と、制御部（７６）と、を用いる。励起源（７２）は、評価部位（８０）に、選択歯垢の吸収及び／又は蛍光励起スペクトルにおける非線形性に対応する波長の近くに中心のある周期的に変化する波長を有する波長変調光（λｅｘ）を出力する。選択歯垢は、非選択歯垢及び／又は干渉種と異なるスペクトル特性を示す。光検出器（７４）は、部位反射光（λｒｅｆｌ）及び／又はサイト放射光（λｅｍ）を含む、評価部位（８０）から受信される光（λｓｉｔｅ）を検出する。制御部（７６）は、励起源（７２）及び光検出器（７４）に動作可能に結合し、波長変調光を出力するよう励起源を制御し、及び検出された光（λｓｉｔｅ）及び波長変調周波数の少なくとも１つのより高い高調波に応じて歯垢を検出する。
