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Quantitative Trait Loci Associated With Soybean Cyst Nematode Resistance and Uses Thereof
专利权人:
David M. Webb
发明人:
David M. Webb
申请号:
US13544470
公开号:
US20120278953A1
申请日:
2012.07.09
申请国别(地区):
US
年份:
2012
代理人:
摘要:
A method for selecting a soybean cyst nematode resistant plant by marker assisted selection of quantitative trait loci associated with soybean cyst nematode resistance. The method employs nucleic acid markers genetically linked to quantitative trait loci to select the soybean cyst nematode resistant plant. Methods for identifying quantitative trait loci associated with soybean cyst nematode resistance in a plant.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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