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无参考温度成像方法及装置
专利权人:
深圳先进技术研究院
发明人:
帖长军,邹超,文剑洪,钟耀祖,刘新,郑海荣
申请号:
CN201310754799.9
公开号:
CN104739382B
申请日:
2013.12.31
申请国别(地区):
CN
年份:
2017
代理人:
摘要:
本发明公开了一种无参考温度成像方法。所述方法包括:利用磁共振成像采集组织相位图,并在相位图中设置一感兴趣区域,所述感兴趣区域对应着初始加热区域的大小及位置;通过每一帧相位图中所述感兴趣区域以外的参考区域中组织的相位,拟合得到所述感兴趣区域中组织的基准相位;根据每一帧相位图中,感兴趣区域中组织的相位以及所述基准相位,确定所述感兴趣区域中组织的温度变化。本发明还相应公开了一种无参考温度成像装置。应用本发明技术方案,能够在对组织进行磁共振温度成像时,提高测量温度变化的精确度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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