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IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD THEREOF
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.;삼성전자주식회사
发明人:
KIM, JONG PALKR,김종팔
申请号:
KR1020180139270
公开号:
KR1020190143335A
申请日:
2018.11.13
申请国别(地区):
KR
年份:
2019
代理人:
摘要:
Disclosed are an impedance measurement device and a method thereof. The impedance measurement device comprises: a capacitor receiving an organic signal determined by impedance of a measurement subject; a controller outputting a control signal for turning a switch on or off in accordance with whether a voltage value of the organic signal is included in a critical range; and a switch determining whether the voltage value of a voltage signal outputted from the capacitor is fixed as a standard voltage value in accordance with the control signal.COPYRIGHT KIPO 2020임피던스 측정 장치 및 방법이 개시된다. 임피던스 측정 장치는 측정 대상의 임피던스에 의해 결정되는 유기 신호를 수신하는 커패시터, 유기 신호의 전압 값이 임계 범위에 포함되는지 여부에 따라 스위치를 온(on) 또는 오프(off)시키기 위한 제어 신호를 출력하는 제어기 및 제어 신호에 따라 커패시터로부터 출력되는 전압 신호의 전압 값을 기준 전압 값으로 고정시킬지 여부를 결정하는 스위치를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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