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采用废胶粒介质提高不同质地土壤基质质量的检测方法
- 专利权人:
- 天津师范大学
- 发明人:
- 赵树兰,多立安
- 申请号:
- CN201010133620.4
- 公开号:
- CN101816247A
- 申请日:
- 2010.03.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2010
- 代理人:
- 朱红星
- 摘要:
- 本发明涉及一种采用废胶粒介质提高不同质地土壤质量的检测方法。它是以耐践踏性较好黑麦草为实验材料,分别在壤土、砂土、粘土中加入粒径分别为0.05-0.1mm、0.1-0.2mm、0.2-0.3mm和0.3-0.4mm的胶粒。在生长过程中分别测定萌发数、株高、叶绿素、地上生物量和地下生物量,并以此作为评价草坪基质的依据。综合评价表明,壤土组中加入0.1-0.2mm和0.2-0.3mm胶粒处理组的基质组配最好;砂土组中加入0.2-0.3mm胶粒处理组的基质组配最好;粘土组中加入0.05-0.1mm胶粒处理组的基质组配最好。本发明利用四种不同粒径的废旧胶粒混合于3种基质中,可改善土壤的质量特征。
- 来源网站:
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址:
- http://www.ckcest.cn/home/