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补偿由荧光检查仪产生的磁干扰
专利权人:
韦伯斯特生物官能(以色列)有限公司
发明人:
A·D·蒙塔格,M·巴-塔尔,T·H·巴-安
申请号:
CN201110461552.9
公开号:
CN102525471A
申请日:
2011.12.22
申请国别(地区):
CN
年份:
2012
代理人:
摘要:
本发明涉及补偿由荧光检查仪产生的磁干扰。本发明公开了一种方法,所述方法包括使用多个磁发射器在某一区域中产生磁场,以及将场扰动元件引入所述区域中。所述方法包括表征每一个磁发射器在所述场扰动元件中的多幅图像,以及根据所述表征的图像计算所述区域中的反应磁场。所述方法还包括将探针定位在所述区域中,测量在所述探针处的被扰动的磁场,以及针对所测量的被扰动的磁场和所计算的反应磁场来确定所述探针的位置。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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