粗略分段的检测器架构及其制造方法
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- A.伊赫列夫,J.A.考策尔
- 申请号：
- CN201210431799.0
- 公开号：
- CN103083034A
- 申请日:
- 2012.11.02
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明粗略分段的检测器架构及其制造方法，一种CT系统，包括具有用于接纳要扫描的对象的开口的可旋转门架、该可旋转门架具有检测器安装表面，附接到门架且配置成向对象投影X射线束的X射线源，各安装在一个视场(FOV)内以及直接安装到可旋转门架的检测器安装表面的多个检测器模块，配置成从多个检测器模块的至少其中之一接收输出的数据采集系统(DAS)，以及编程为从DAS获取对象的成像数据的投影并使用成像数据生成对象的图像的计算机。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
