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ALIGNEMENT À HAUTE RÉSOLUTION D'IMAGERIE 3D AVEC IMAGERIE 2D
专利权人:
THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIOR UNIVERSITY
发明人:
WINETRAUB, Yonatan,YUAN, Edwin,TEREM, Itamar,YU, Caroline,DE LA ZERDA, Adam
申请号:
USUS2020/027735
公开号:
WO2020/210679A1
申请日:
2020.04.10
申请国别(地区):
US
年份:
2020
代理人:
摘要:
Alignment of a 2D image to a corresponding 3D image is provided by writing a pattern into a 3D sample, The pattern is at known positions in the 3D image, and provides visible reference features in the 2D image. This permits accurate determination of the plane in the 3D image that corresponds to the 2D image.L'alignement d'une image 2D avec une image 3D correspondante est fourni par l'écriture d'un motif dans un échantillon 3D. Le motif se trouve à des positions connues dans l'image 3D et fournit des caractéristiques de référence visibles dans l'image 2D. Cela permet une détermination précise du plan dans l'image 3D qui correspond à l'image 2D.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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