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离子产生装置
专利权人:
夏普株式会社
发明人:
藤井胜司
申请号:
CN201080020272.8
公开号:
CN102422498B
申请日:
2010.05.12
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本发明提供一种离子产生装置,能够防止出现尽管产生了离子而被判断为无离子产生的情况。本发明的离子产生装置包括:离子产生器(1),用于产生离子;离子检测器(3),对产生的离子进行检测;送风机(2),将产生的离子通过送风通道吹出到外部;以及控制部(5),对离子产生器(1)和送风机(2)进行驱动控制。控制部(5)在运转开始时使送风机(2)停止,并利用离子检测器(3)进行离子检测,来判断有无离子产生。在控制部(5)判断无离子产生时,继续进行多次离子产生的判断,如果全部判断为无离子产生,则最终判断为没有离子产生。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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