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皮肤类型和条件的光学评估
专利权人:
美国亚德诺半导体公司
发明人:
S·德立瓦拉
申请号:
CN201780017305.5
公开号:
CN108778098A
申请日:
2017.03.13
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
实施例的各方面涉及紧凑和非接触系统、方法和装置,用于在样本上/内对样本进行光学检测。至少两种不同波长或不同波长带的光与目标化学品相互作用,并且至少一些与目标化学品相互作用的光入射在至少两个光电探测器上。每个光电探测器被配置为检测与目标化学品相互作用的不同波长或不同波长带的光。处理逻辑被配置为计算指示由一个光电探测器检测到的光强度的参数与指示由另一个光电探测器检测到的光强度的参数之间的比率,并基于计算比率确定目标化学品的存在和/或量。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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