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LIGHT APPLICATION APPARATUS FOR APPLYING LIGHT TO AN OBJECT
专利权人:
코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.;KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.
发明人:
MOENCH HOLGER,묀흐, 홀거,ACKERMANN BERND,액커만, 베른드
申请号:
KR1020127004191
公开号:
KR1020120049274A
申请日:
2010.07.08
申请国别(地区):
KR
年份:
2012
代理人:
摘要:
The invention relates to a light application apparatus (1) for applying light to an object (3). A light source (4) generates processing light (2) and sensing light (5), which are coupled into the object (3). A light detector (8) detects the sensing light (5) after having left the object (3), and a control unit (9) controls the light source (4) such that processing light (2) in a processing time interval and sensing light (5) in a sensing time interval are alternately generated. Since processing light and sensing light are generated alternately, the generation of the processing light and of the sensing light is decoupled, i.e. the processing light can be optimized for processing purposes and the sensing light can be optimized for sensing purposes. This allows improving the quality of sensing the object and, thus, the quality of controlling the application of light depending on properties of the object.본 발명은 피사체(3)에 광을 조사하는 광 조사 장치(1)에 관한 것이다. 광원(4)은 피사체(3)로 결합되는 처리광(2)과 감지광(5)을 발생시킨다. 광 검출기(8)는 피사체(3)를 떠난 후의 감지광(5)을 검출하고, 제어부(9)는 처리 시간 구간에서는 처리광(2)을 그리고 감지 시간 구간에서는 감지광(5)을 교대로 발생시키도록 광원(4)을 제어한다. 처리광과 감지광이 교대로 발생되므로, 처리광과 감지광의 발생은 분리되고, 즉, 처리광이 처리를 위해 최적화될 수 있고, 감지광이 감지를 위해 최적화 될 수 있다. 이것은 피사체를 감지하는 품질, 따라서, 피사체의 특성에 의해 광의 조사를 제어하는 품질을 개선시킨다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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