通过衰减全反射(ATR)进行的成像
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- F.B.盖格,M.凯德尔,A.希克
- 申请号：
- CN201480034879.X
- 公开号：
- CN105452846A
- 申请日:
- 2014.03.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种利用反射矩阵实现衰减全反射红外光谱分析(ATR红外光谱分析)的装置。该反射矩阵实现含水的和/或粉末的样本的具有高信噪比的、位置分辨的光谱分析，而无需预先进行麻烦的样本准备。此外还提供一种方法，该方法结合该反射矩阵实现样本的高信号强度的成像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
