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半导体装置以及包括半导体装置的AC电阻测量系统
专利权人:
瑞萨电子株式会社
发明人:
平井正人,林秀玲
申请号:
CN201510623786.7
公开号:
CN105455809A
申请日:
2015.09.25
申请国别(地区):
CN
年份:
2016
代理人:
摘要:
本发明涉及半导体装置以及包括半导体装置的AC电阻测量系统。提供了一种半导体装置,其包括:AC电压生成单元,其根据控制信号生成具有振幅的AC电压;与测量对象串联地提供的电阻元件,AC电压被施加到该电阻元件;电压检测单元,其检测电阻元件两端之间的差电压是否已达到规定电压;以及控制单元,其基于电压检测单元的检测结果向AC电压生成单元输出控制信号以使AC电压生成单元生成AC电压,使得差电压达到规定电压。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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