Die Erfindung betrifft ein Verfahren einer interferometrischen Röntgenuntersuchung und eine Röntgenvorrichtung (1) zur interferometrischen Röntgenuntersuchung, wobei ein Untersuchungsobjekt (O) in einem Strahlengang mit mindestens einem kohärenten Strahl (S) einer interferometrischen Strahler-Detektor-Anordnung (F, G1, D) durchstrahlt wird, während im Strahlengang zumindest ein Phasengitter (G1) angeordnet ist, durch welches jeweils ein Selbstabbild des Phasengitters als Interferenzmuster (M) in mindestens einem Abstand (d) erzeugt wird, wobei eine Änderung des Interferenzmusters (I) zur Bestimmung einer Mikro-Bewegung mindestens eines Voxels (V) des Untersuchungsobjektes (O) verwendet wird und die Bewegung des mindestens einen Voxels (V) gespeichert und/oder ausgegeben und/oder bildlich dargestellt wird.The invention relates to a method of an interferometric X-ray examination and an X-ray apparatus (1) for interferometric X-ray examination, wherein an examination subject (O) in a beam path with at least one coherent beam (S) of an interferometric radiator detector arrangement (F, G1, D) is arranged while in the beam path at least one phase grating (G1), by each of which a self-image of the phase grating as interference pattern (M) in at least one distance (d) is generated, wherein a change of the interference pattern (I) for determining a micro-movement at least one voxel (V) of the examination subject (O) is used and the movement of the at least one voxel (V) is stored and / or output and / or displayed.
