散射校正方法及装置
- 专利权人:
- 上海联影医疗科技有限公司
- 发明人:
- 李贵,刘艳芳,刘娟,倪成
- 申请号：
- CN201410427644.9
- 公开号：
- CN104783819B
- 申请日:
- 2014.08.27
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 散射校正方法及装置，所述方法包括：获取待扫描对象的第一投影图像；建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型；根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像；当所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致时，从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像。上述的方案可以更加准确地获取所述待扫描对象的散射图像，更加简单易行。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
