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Endoskop mit Tiefenbestimmung
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Peter Rentschler,Anton Schick
申请号:
DE102014216027
公开号:
DE102014216027A1
申请日:
2014.08.13
申请国别(地区):
DE
年份:
2016
代理人:
摘要:
Es wird ein Endoskop (1) zur Tiefenbestimmung eines Teilbereiches (50) eines Hohlraumes vorgeschlagen, das wenigstens einen ersten Abbildungskanal (21), welcher eine erste optische Achse (101) aufweist, umfasst, wobei innerhalb des ersten Abbildungskanals (21) wenigstens eine erste optische Umlenkvorrichtung (31) angeordnet ist, die zu einem bezüglich der ersten optischen Achse (101) transversalen parallelen Versatz (24) der ersten optischen Achse (101) und einer Winkeländerung (42) der ersten optischen Achse (101) ausgebildet ist, wobei die Winkeländerung (42) im Bereich von 25° bis 35° liegt.it is an endoscope (1) to tiefenbestimmung a section (50) of a cavity, the at least one first proposed abbildungskanal (21), which is a first optical axis (101) which includes, and within the first abbildungskanals (21) at least a first optical umlenkv orrichtung (31) is arrangedthe one on the first optical axis (101) transverse parallel packing (24) of the first optical axis (101) and a moving angle (42) of the first optical axis (101) is trained with the moving angle (42) in the range of 25 to 35 degrees.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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