A measurement method performed by a computed tomography (CT) system 10 is disclosed. The CT system 10 comprises an X-ray source and an X-ray detector array of a plurality of photon counting edge-on detectors, each edge-on detector having a plurality of depth segments arranged at different spatial positions in the direction of incident X-rays. And is also referred to as a plurality of detector elements 15. The method comprises applying a time offset measurement scheme that provides a time offset between measurement periods of at least two different detector elements 15 arranged at different depths, wherein the time offset is determined by at least two measurement periods. Selected to at least partially overlap in time. A corresponding CT system 10, a control unit 20 for the CT system, and a measurement circuit 30 for the CT system 10 are also disclosed. A computer program for controlling the CT system 10 is also disclosed. The disclosed technique provides a higher sampling frequency in the angular direction.コンピュータ断層撮影（ＣＴ）システム１０によって実行される測定方法が開示される。ＣＴシステム１０は、Ｘ線源と複数の光子計数エッジオン検出器のＸ線検出器アレイとを備え、各エッジオン検出器は、入射Ｘ線の方向において異なる空間位置に配置された複数の深度セグメントを有し、複数の検出器要素１５とも呼ばれる。本方法は、異なる深度に配置された少なくとも２つの異なる検出器要素１５の測定期間の間に時間オフセットを提供する時間オフセット測定方式を適用することを備え、時間オフセットは、少なくとも２つの測定期間が少なくとも部分的に時間的に重なり合うように選択される。対応するＣＴシステム１０、ＣＴシステム用の制御ユニット２０、およびＣＴシステム１０用の測定回路３０も開示される。ＣＴシステム１０を制御するコンピュータプログラムも開示される。開示される技術は、角度方向においてより高いサンプリング周波数を提供する。
