用超导量子干涉器测量磁场并定位磁场电流源的方法
- 专利权人:
- 同济大学
- 发明人:
- 蒋式勤,石明伟,朱俊杰
- 申请号：
- CN201010580178.X
- 公开号：
- CN102551711B
- 申请日:
- 2010.12.09
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 赵继明
- 摘要：
- 本发明涉及用超导量子干涉器测量磁场并定位磁场电流源的方法，该方法包括以下步骤：1)利用超导量子干涉器采集少量测点上的磁场信号；2)根据测量到的磁场信号求出每个时刻的磁场极大值和磁场极小值；3)计算机对步骤2)中求得的每个时刻的磁场极大值和磁场极小值处理后求出磁场源的位置和强度参数。与现有技术相比，本发明具有方法简单、有效，且可以大大节省硬件成本等优点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
