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借助高频信号对B0不均匀性进行校正的方法和设备
专利权人:
西门子医疗有限公司
发明人:
M.格布哈特,R.卡陶施,M.维斯特尔
申请号:
CN201910227330.7
公开号:
CN110353681A
申请日:
2019.25.03
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明涉及一种借助高频信号对B0不均匀性进行校正的方法和设备。本发明涉及一种用于在利用磁共振断层成像设备进行磁共振测量时对B0不均匀性进行校正的方法。磁共振断层成像设备具有控制单元、高频单元和发射天线。在所述方法中,通过控制单元(20)确定发射信号,该发射信号适用于借助Bloch‑Siegert效应,对检查体积中的B0静磁场的不均匀性的影响进行校正,并且将发射信号发射到检查体积中。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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