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一种金属吸收膜层光学常数及厚度的测量方法
- 专利权人:
- 中国建筑材料科学研究总院
- 发明人:
- 余刚,汪洪
- 申请号：
- CN201510166184.3
- 公开号：
- CN104730034A
- 申请日:
- 2015.04.09
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 王伟锋`刘铁生
- 摘要：
- 本发明公开了一种金属吸收膜层光学常数及厚度的测量方法，涉及镀膜玻璃领域，解决了现有技术无法准确、及时测量出金属吸收膜层的光学常数和厚度的问题。本发明的主要技术方案为：制备N个镀膜样品，每个镀膜样品包括基片及镀制在基片上的金属吸收膜层；测量出镀膜样品在预定波长范围的透射光谱；对光学常数多项式模型的参数及镀膜样品的膜层厚度进行初始设置，形成初始值；利用遗传算法，以初始值为搜索起点，以透射光谱为搜索依据，通过遗传算法参数设置，最终得到金属吸收膜层的折射率、消光系数及厚度。本发明主要用于及时、准确地测试出金属吸收膜层的光学常数及厚度，以简化产品设计开发及生产控制过程，进而减少企业设备投资成本。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
