磁共振成像装置以及SAR的预测方法
- 专利权人:
- 株式会社日立制作所
- 发明人:
- 新井浩一,八尾武,佐藤良昭
- 申请号：
- CN201380054221.0
- 公开号：
- CN104736050B
- 申请日:
- 2013.11.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 在将被检测体配置于MRI装置的状态下简单地求取RF照射线圈的Q值，并高精度地预测SAR。为此，在将被检测体(1)配置于摄像空间内的状态下，从照射线圈(14a)向被检测体(1)照射高频磁场脉冲，检测照射线圈(14a)的发送电压和反射电压。根据该发送电压和反射电压来求取配置有被检测体(1)的状态下的照射线圈的Q值。使用该Q值，预测对被检测体实施了摄像脉冲序列时的比吸收率(SAR)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
