高度量测装置及其方法
- 专利权人:
- 纬创资通股份有限公司
- 发明人:
- 张耀宗,李佳宪,林百洋,钟顺麒
- 申请号：
- CN201410006494.4
- 公开号：
- CN104720815B
- 申请日:
- 2014.01.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提出一种高度量测装置及其方法，适用于具有反射面的环境，此高度量测方法包含沿第一光径发射第一激光至反射面。判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光。若接收到第一反射光，依据对应于第一反射光的第一数据，计算第一长度值。沿第二光径发射第二激光，第二激光被反射面反射至待测物。判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光。若接收到第二反射光，依据对应于第二反射光的第二数据，计算第二长度值。并且，至少依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
