X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- 陈培军,谭涌涛,赵巍,桑德斯·罗兰
- 申请号：
- CN201511016179.0
- 公开号：
- CN106923851A
- 申请日:
- 2015.12.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法，X射线探测器的校准方法包括：调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数；以及，根据该校准参数对X射线探测器进行校准。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
