The result of identifying the type and property of the substance to be X-ray examined does not depend on the observation direction, and the interface function for the identification process is enhanced. In the data processing device (12), image data is calculated based on the photon count value of the transmitted X-ray of the object. Based on this image data, attenuation information of the X-ray is obtained for each pixel of each of n (n is a positive integer of 2 or more) energy regions of the X-ray and for each pixel. The attenuation information includes i) unique information that is represented as a vector quantity on the same n-dimensional number of coordinates as the number of the n energy regions and that is uniquely dependent on the type or property of the object, and ii) Additional information associated with the unique information and dependent on the length of the path through which the X-ray passes through the object is included. From this attenuation information, only unique information that does not depend on the accompanying information is generated. A scatter point for mapping a scatter point according to this unique information on the n-dimensional coordinate or on a coordinate having a smaller number of dimensions than the n-dimensional coordinate is calculated.Ｘ線検査対象の物質の種類や性状を同定した結果を、観察方向に依存せず、且つ、同定処理のためのインターフェース機能を充実させる。データ処理装置（１２）において、対象物の透過Ｘ線の光子計数値に基づいて画像データが演算される。この画像データに基づき、例えば、Ｘ線のｎ個（ｎは２以上の正の整数）のエネルギー領域の各別に、且つ、画素毎に、当該Ｘ線の減弱情報がされる。この減弱情報には、i)前記ｎ個のエネルギー領域の数と同じｎ次元数の座標上のベクトル量として表わされ且つ対象物の種類又は性状に固有的に依存する固有情報と、ii)当該固有情報に付随し且つ前記Ｘ線が当該対象物を通過するパスの長さに依存する付随情報とが含まれる。この減弱情報から、付随情報に依存しない固有情報のみが生成される。この固有情報に応じた散布点が、前記ｎ次元の座標上、又は当該ｎ次元よりも少ない次元数の座標上にマッピングするための散布点が演算される。
