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被検物質を検出する方法、および、検出システム
专利权人:
パナソニック株式会社
发明人:
奥村 泰章,河村 達朗,塩井 正彦,南口 勝
申请号:
JP2014554114
公开号:
JP5712337B2
申请日:
2013.12.12
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
An exemplary sensor chip includes a substrate, a metal pattern formed on a side of the substrate that is irradiated with excitation light, and a first substance and a second substance provided near the metal pattern. A first intensity Xa of the first surface-enhanced Raman-scattered light from the first substance and a second intensity Xb of the second surface-enhanced Raman-scattered light from the second substance are detected. An intensity ratio Xc, as obtained by dividing the second intensity Xb with the first intensity Xa, is calculated.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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