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Determination of marks on quantitative image data
专利权人:
Siemens Healthcare GmbH
发明人:
David Grodzki
申请号:
DE102017202601
公开号:
DE102017202601A1
申请日:
2017.02.17
申请国别(地区):
DE
年份:
2018
代理人:
摘要:
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur automatischen Bestimmung einer Schichtposition in einer MR-Anlage für die Aufnahme von zumindest einem MR-Bild einer anatomischen Struktur in einem Untersuchungsobjekt. Es wird zumindest ein MR-Übersichtsdatensatz des Untersuchungsobjekts, der die anatomische Struktur enthält, aufgenommen. Weiterhin werden quantitative MR-Übersichtsdaten des Untersuchungsobjekts, bei denen für zumindest einige Bildpunkte des MR-Übersichtsdatensatzes eine physikalische Größe des Untersuchungsobjekts quantitativ und ortsaufgelöst bestimmt wird, bestimmt. Ferner wird zumindest eine Markierung in den quantitativen MR-Übersichtsdaten unter Verwendung von der physikalischen Größe und von vorab gespeicherten Referenzdaten (26), in denen der Wert der physikalischen Größe in Abhängigkeit von einer Grundfeldstärke der MR-Anlage für zumindest zwei unterschiedliche Grundfeldstärken angegeben ist, ermittelt und die Schichtposition unter Verwendung der ermittelten Markierung bestimmt.The present invention relates to a method for the automatic determination of a slice position in an MR system for the acquisition of at least one MR image of an anatomical structure in an examination subject. At least one MR overview data set of the examination subject, which contains the anatomical structure, is recorded. Furthermore, quantitative MR overview data of the examination object in which a physical size of the examination subject is determined quantitatively and spatially resolved for at least some pixels of the MR overview dataset are determined. Furthermore, at least one marker in the quantitative MR survey data is determined using the physical quantity and pre-stored reference data (26), in which the value of the physical quantity is given as a function of a basic field strength of the MR system for at least two different basic field strengths, determined and the layer position determined using the determined mark.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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