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用于发射断层显像定量的系统和方法
专利权人:
通用电气公司
发明人:
S·安,R·M·曼杰什瓦,F·P·霍伊肯斯菲尔德特詹森,S·G·罗斯
申请号:
CN201610651230.3
公开号:
CN106466188B
申请日:
2016.01.06
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
一种方法包括使用成像扫描仪针对要成像的对象采集扫描数据。该方法还包括使用该扫描数据重建显示图像。进一步地,该方法包括确定用于生成定量图像的定量成像算法的一个或多个方面,其中该定量成像算法的一个或多个方面被选择以优化针对病变定量的定量品质因数。该方法还包括使用扫描数据和定量成像算法重建定量图像;在显示设备上显示该显示图像;确定显示图像中的感兴趣区域;针对该感兴趣区域使用定量图像的对应的感兴趣区域确定病变定量值;以及在显示设备上显示该病变定量值。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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