全视野三维表面测量
- 专利权人:
- 光圈诊断有限公司
- 发明人:
- R.翟恩
- 申请号：
- CN201480026823.X
- 公开号：
- CN105377109A
- 申请日:
- 2014.03.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明的实施例可以被用来以全视野和以3-D的方式执行表面的测量，诸如人体的外部表面和内部表面。电磁辐射源可以被配置为以对应于空间信号调制算法的图案投射所述电磁辐射。所述电磁辐射源也可以被配置为以适合于传输通过所述辐射被投射在其内的介质的频率投射所述电磁辐射。图像传感器可以被配置为捕捉表示所投射的图案的图像数据。图像处理模块可以被配置为从所述图像传感器接收所捕捉的图像数据并且使用所捕捉的图像数据和所述空间信号调制算法计算所述表面的全视野3-D表示。显示装置可以被配置为显示所述表面的所述全视野3-D表示。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
