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Systems and Methods for Investigating Objects
专利权人:
에프센 엔지니어링 에이/에스
发明人:
에프센 토마스,윈더 아게
申请号:
KR1020197035307
公开号:
KR1020200006074A
申请日:
2018.04.23
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要:
The present invention is directed to a system and method for irradiating an object and controlling irradiation or for controlling other conditions related to the effectiveness of the irradiation. The sensor is for example along the longitudinal direction of the radiation emitter and in relation to the effects of the radiation emitter and the irradiation and to obtain information about a parameter derived from the space between the radiation emitter and the irradiated object, for example Is translated. Irradiation is controlled by calibrating the sensor readings and adjusting the radiation emitter output.본 발명은 물체를 조사하고 조사를 제어하거나 또는 조사의 효과와 관련된 다른 조건을 제어하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다. 센서는 방사선 방출기의 종방향을 따라 그리고 방사선 방출기와 조사의 효과와 관련되며 방사선 방출기와 조사된 물체 사이의 공간에서 도출되는 파라미터에 관한 정보에 도달하기 위해 예컨대, 방사선이 조사된 물체 사이의 공간에서 병진 이동된다. 센서 판독을 교정하고 방사선 방출기 출력을 조정함으로써 조사가 제어된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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