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断層撮影装置、それを備えた撮影システム並びに撮影データ取得方法
专利权人:
株式会社島津製作所
发明人:
水田 哲郎,北村 圭司,稲岡 祐一,高橋 宗尊,千田 道雄,松本 圭一,清水 敬二
申请号:
JP2007001469
公开号:
JP5073293B2
申请日:
2007.01.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a tomography device capable of determining an index independent of the physical quantity related to the size of an analyte in evaluating an image, a photographing system equipped with the same, and a photographing data acquisition method.SOLUTION: A cross section calculation section 16c calculates the cross section of the analyte as a physical quantity related to the size of the analyte, and an NEC (Noise Equivalent Count) calculation section 16b calculates the noise equivalent count NEC as a physical quantity for evaluating the image. Based on the cross section of the analyte calculated by the section 16c and the noise equivalent count NEC calculated by the section 16b, C-NEC calculation section 16d calculates the noise equivalent count C-NEC per unit area as the physical quantity for evaluating the image per size of the analyte. Thus, by calculating the noise equivalent count C-NEC per unit area, the index independent of the cross section of the analyte can be determined in evaluating the image.COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT【課題】画像を評価する際において、被検体の大きさに関する物理量に依存しない指標を求めることができる断層撮影装置、それを備えた撮影システム並びに撮影データ取得方法を提供することを目的とする。【解決手段】断面積演算部16cは、被検体の大きさに関する物理量として被検体の断面積を演算するとともに、NEC演算部16bは、画像を評価する物理量として雑音等価計数NECを演算する。断面積演算部16cで演算された被検体の断面積およびNEC演算部16bで演算された雑音等価計数NECに基づいて、C-NEC演算部16dは、被検体の大きさ当たりの画像を評価する物理量として単位面積当たりの雑音等価計数C-NECを演算する。このように、単位面積当たりの雑音等価計数C-NECを演算することで、画像を評価する際において、被検体の断面積に依存しない指標を求めることができる。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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