X line of scintillator to convert the deposits and deposits in the generated scintillator detection by X-ray observations and X-ray imaging device 10 including an imaging device for acquiring an image, and the first noise image component, which contains a 1 X-ray observed image, a second noise image component between a 2 X-ray observed image that contains the subjected to a subtraction process, and the first subtractor 25 to generate a noise image, performing a threshold value process on the noise image, and the first noise image component to extract the threshold value processing circuit 26, the 1 X-ray observation from the image, extracted by subtracting the first noise image component by a second subtractor (27) for generating a noise removing image constitutes the X-ray imaging system (1A). Thus, X-ray observed image that it is possible to preferably acquire an X-ray in a state where the influence of the noise image component is reduced imaging method and X-ray imaging system is realized.X선상을 광상으로 변환하는 신틸레이터 및 신틸레이터에서 생성된 광상을 검출하여 X선 관찰 화상을 취득하는 촬상 소자를 포함하는 X선 촬상 장치(10)와, 제1 노이즈 화상 성분을 포함하는 제1 X선 관찰 화상과, 제2 노이즈 화상 성분을 포함하는 제2 X선 관찰 화상 사이에서 감산 처리를 행하여, 노이즈 화상을 생성하는 제1 감산기(25)와, 노이즈 화상에 대하여 문턱값 처리를 행하여, 제1 노이즈 화상 성분을 추출하는 문턱값 처리 회로(26)와, 제1 X선 관찰 화상으로부터, 추출된 제1 노이즈 화상 성분을 감산함으로써 노이즈 제거 화상을 생성하는 제2 감산기(27)를 구비하여 X선 촬상 시스템(1A)을 구성한다. 이에 의해, X선 관찰 화상을 노이즈 화상 성분의 영향이 저감된 상태에서 바람직하게 취득하는 것이 가능한 X선 촬상 방법 및 X선 촬상 시스템이 실현된다.
