射频综合样品检查方法
- 专利权人:
- 分光扫描公司
- 发明人:
- J-B.佩林,J-R.菲利普
- 申请号：
- CN200980162574.6
- 公开号：
- CN102648406A
- 申请日:
- 2009.09.30
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及通过所谓射频综合法的连续无损样品检查方法，其可以被集成到管理所述样品的生命周期的过程中。此方法借助于至少一个X射线源和至少一个与所述源形成一对的数字传感器操作，对于每个样品的至少一个横断面的每次实时生成，源和传感器在运动空间内沿着反向和同向轨迹移动。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
