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内部構造推定方法
专利权人:
KAO CORP
发明人:
OKAMOTO YOSHIO,岡本 良夫,YAMAGUCHI TORU,山口 亨
申请号:
JP2016030451
公开号:
JP2017144192A
申请日:
2016.02.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method which, even when the data obtained by actually measuring a subject with electrodes is limited, can acquire a high-resolution reconstructed image of an internal structure of the subject using an electric impedance tomography method.SOLUTION: A method for estimating an internal structure of a subject 200 by using an electric impedance tomography method, includes repeating a displacement step of minutely displacing at least a part of boundary positions between a first minute region corresponding to an outer layer 202 and a second minute region corresponding to an inner layer 204 to thereby move the boundary positions. At this time, the boundary positions are minutely displaced such that the differences between actual measurements of the potential of the subject 200 and calculated potentials obtained by using a post-minute displacement model become smaller than the differences between the actual measurements and calculated potentials obtained by using a pre-minute displacement model.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】電極を用いて測定対象から実測される電位や電位差に関するデータが限られた少ない個数であっても電気インピーダンストモグラフィ法によって高い解像度で内部構造の再構成画像を得ることが可能な方法等を提供する。【解決手段】電気インピーダンストモグラフィ法を用いて測定対象200の内部構造を推定する方法であり、外層202に相当する第一の微小領域と内層204に相当する第二の微小領域との境界位置の少なくとも一部を微小変位させる変位工程を繰り返して境界位置を移動させる。このとき、測定対象200から実測された電位実測値と微小変位後モデルの電位演算結果との差異が、当該電位実測値と微小変位前モデルの電位演算結果との差異よりも減少するように境界位置を微小変位させる。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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