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영유아 종합인지처리척도 평가과정에서 터치스크린과 뇌파 측정장치를 활용한 한국형 영재 진단 방법
专利权人:
发明人:
KIM, SUN NYE,김선녀,YU, HAE MEE,유혜미
申请号:
KR1020120030725
公开号:
KR1012582390000B1
申请日:
2012.03.26
申请国别(地区):
KR
年份:
2013
代理人:
摘要:
PURPOSE: A Korean style genius diagnosis method for utilizing a touch screen and a brainwave measurement device in a synthesis cognitive processing evaluation process for infants is provided to calculate intelligence evaluation scores by applying the number of correct answers, a weighted value for a solved problem, and a weighted value corresponding to problem solving time.CONSTITUTION: A genius diagnosis system sets problems for genius diagnosis through a touch screen of a terminal corresponding to a difficulty level and a type(S11). The genius diagnosis system converts the number of correct answers into scores(S12). The genius diagnosis system converts the scores by applying a weighted value corresponding to the difficulty level for each solved problem(S13). The genius diagnosis system applies the weighted value corresponding to time required for solving the problems(S14). The genius diagnosis system calculates intelligence evaluation scores(S15).COPYRIGHT KIPO 2013[Reference numerals] (S11) Setting problems for intelligence evaluation (S12) Reflecting a correct answer result on an intelligence diagnosis grade (S13) Applying a weighted value corresponding to the difficulty level for each problem (S14) Applying the weighted value corresponding to time required for solving the problems (S15) Calculating intelligence evaluation scores본 발명은 영유아 종합인지처리척도 평가과정에서 터치스크린과 뇌파 측정장치를 활용한 한국형 영재 진단 방법에 관한 것으로, 결과를 무시하지 않으면서도 진단 과정에서 유아의 잠재적 영재성에 관한 가치 있는 단서들을 과학적인 도구들을 활용하여 이끌어 내고 이를 점수에 반영함으로써 일관성과 공정성을 유지하면서 객관적으로 영재를 진단할 수 있도록 한 것이다. 이러한 본 발명은, 터치스크린이 설치된 단말기를 마련하는 단계와 데이터베이스에 저장되어 있던 영재 진단을 위한 난이도별, 유형별 문제들을 상기 터치스크린을 통해 출제하여 유아가 상기 터치스크린을 터치하는 방식으로 문제를 풀 수 있도록 하는 단계와 상기 문제들에 대하여 정답을 맞혔는지 여부를 제어기가 판단하고 그 결과를 영재 진단 점수에 반영하는 단계와 상기 출제된 문제를 유아가 푸는 과정에서 상기 터치스크린이 터치된 횟수, 터치 동선에 따른 거리, 터치 속도를 상기 제어기가 분석하여 영재 진단 점수에 반영하는 단계를 포함하여 이루어진다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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