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Método para medir a biometria de um objeto, e equipamento terminal para medir a biometria de um objeto
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
HAE-KYUNG JUNG,HEE-CHUL YOON,HYUN-TAEK LEE,YONG-JE KIM,JAE-HYUN KIM,MYUNG-JIN EOM
申请号:
BR102013000020
公开号:
BR102013000020A2
申请日:
2013.01.02
申请国别(地区):
BR
年份:
2015
代理人:
摘要:
Method for measuring the biometrics of an object, and the terminal equipment to measure the biometrics object. A method and equipment for measuring automatically the biometrics object. The method includes receiving an image of an object, model the object such that at least a part thereof can be identified, and measuring the biometrics of the object based on a result of the modeling of the object.Método para medir a biometria de um objeto, e equipamento terminal para medir a biometria de um objeto. Um método e equipamento para medir automaticamente a biometria de um objeto. O método inclui receber uma imagem de um objeto, modelar o objeto de tal modo que ao menos uma sua parte pode ser identificada, e medir a biometria do objeto com base em um resultado da modelagem do objeto.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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