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主观式检眼装置
- 专利权人:
- 尼德克株式会社
- 发明人:
- 滝井通浩,羽根渕昌明,越智永
- 申请号：
- CN201610959315.8
- 公开号：
- CN106963335A
- 申请日:
- 2016.11.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 主观式检眼装置具备主观式测定部和客观式测定部，主观式测定部主观地测定上述受检眼的光学特性，并具有：向受检眼投影视标光束的投光光学系统；具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统且配置于上述投光光学系统的光路中变更上述视标光束的光学特性的矫正光学系统；为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光的光学部件，客观式测定部具有向上述受检眼的眼底射出测定光并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，客观式测定部经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
