基于中波红外反射率基准的光学通道在轨定标验证方法
- 专利权人:
- 北京大学
- 发明人:
- 林沂,赵帅阳,晏磊,胡兴帮,李延飞,景欣
- 申请号：
- CN201810264534.3
- 公开号：
- CN108680534A
- 申请日:
- 2018.03.28
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 余长江
- 摘要：
- 本发明提供了基于中波红外(3～5μm)反射率基准的光学通道在轨定标验证方法。主要包括：A)利用中波红外高精度在轨定标特性，系统构建以中波红外通道反射率为基准的波段间在轨定标验证模型、理论与方法；B)以海洋耀斑区为验证场景，以中波红外通道大气层顶反射率为参考基准的进行波段间在轨定标验证。本发明为全谱段传感器在轨辐射定标与验证提供新途径，为提高航天载荷定量化水平提供有效验证手段。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
