Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Markierung einer Oberfläche (3, 4, 6, 12) eines dreidimensionalen Untersuchungsobjekts (1) mit einer Projektionsvorrichtung (2), umfassend die Schritte eines Erfassens von Reliefdaten (RD) der Oberfläche (3, 4, 6, 12), eines Festlegens einer Maßinformationsmarkierung (5), eines Bestimmens eines Referenzlagewerts (v), welcher eine Lage einer Abstrahleinrichtung (8, 9) relativ zur Oberfläche (3, 4, 6, 12) repräsentiert, eines Berechnens einer Vorverzerrung der festgelegten Maßinformationsmarkierung (5) in Abhängigkeit von den Reliefdaten (RD) und dem Referenzlagewert (v), sowie eines Abstrahlens der vorverzerrten Maßinformationsmarkierung (5) von der Abstrahleinrichtung (8, 9) in Richtung der Oberfläche (3, 4, 6, 12). Außerdem betrifft die Erfindung eine Projektionsvorrichtung (2) zur Durchführung eines solchen Verfahrens. Darüber hinaus betrifft die Erfindung ein medizintechnisches Bildgebungssystem (13) mit einer derartigen Projektionsvorrichtung (2).The invention relates to a method for marking a surface (3, 4, 6, 12) of a three-dimensional object to be examined (1) with a projection device (2), comprising the steps of detecting relief data (rd) of the surface (3, 4, 6, 12), a determining a measurement information marking (5), a determining a reference position value (v), which a position of an emission device (8, 9) relative to the surface (3, 4, 6, 12) of calculating a predistortion of the fixed measurement information marking (5) in a function of the relief data (rd) and the reference position value (v), as well as of a sounding the predistorted measurement information marking (5) of the emission device (8, 9) in the direction of the surface (3, 4, 6, 12). In addition, the invention relates to a projection device (2) for carrying out a method of this type. Furthermore, the invention relates to a medical imaging system (13) with such a projection device (2).
