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基于放电率钳位闭环的神经元相响应特性的测量系统
专利权人:
天津大学
发明人:
魏熙乐,司开利,卢梅丽,伊国胜,王江,邓斌,于海涛
申请号:
CN201510752241.6
公开号:
CN105286848B
申请日:
2015.11.06
申请国别(地区):
CN
年份:
2017
代理人:
摘要:
本发明提供基于放电率钳位闭环的神经元相响应特性的测量系统,该系统包括有相互连接的神经元放电率检测装置、PID控制装置、脉冲生成装置。有益效果是该测量系统通过闭环控制保持了神经元放电率,有效地利用了闭环电生理的优势,并且可以方便地改变放电率值,进行多组相响应曲线测量,实现了脉冲刺激时间与相位的准确性,对于相响应的实验研究具有重要价值。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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