Measuring device 2 by interferometer includes a light source 1 is disposed in the reference arm 4 or the measuring arm 3, the apparatus, optical element 8 in order to influence the polarization state of the light prior to overlap with the interferometer, for realizing the OCT scan, the scan unit 7 is disposed in the measurement arm, consists of a recording unit 11 and the evaluation and detector 9, for recording the interference samples produced. The polarization state of the light at least two different optical elements from 8 is generated. The detector 9, the illumination by light with a polarization state of at least two different interference sample measurement apparatus 2 by the interferometer is generated is recorded and sent to the recording unit 11 and the evaluation, recording unit 11 and evaluation , the combination of this and (11.2), to reconfigure the OCT scan interference from the sample that is transmitted and displayed the OCT signal generated (11.4), as a result save and / or to (11.5).装置は、光源1を備えた干渉計による測定装置2、測定アーム3または参照アーム4内に配置されている、干渉計による重なり合いの前に光の偏光状態に影響を与えるための光学要素8、OCTスキャンを実現するための、測定アーム内に配置されているスキャン・ユニット7、生じた干渉サンプルを記録するための検出器9、ならびに評価および記録ユニット11からなる。光学要素8から少なくとも2つの異なった光の偏光状態が生成される。検出器9により、少なくとも2つの異なった偏光状態を備えた光による照明において、干渉計による測定装置2が生成した干渉サンプルが記録され、評価および記録ユニット11に送られ、評価および記録ユニット11は、伝達された干渉サンプルからOCTスキャンを再構成し(11.2)、およびこれを組み合わせ(11.4)、結果として生じるOCT信号を表示および/または保存(11.5)する。
