A yield model generates a yield map for an agricultural field. A measurement system generates measured indicators that are a measurement or quantification of crop yield in the agricultural field. An observation system generates observed indicators that are spatial agricultural datasets describing observed characteristics of the agricultural field. To generate the yield map, the yield model generates a field array representing the agricultural field. The yield model generates an input array and a yield array by mapping the observed indicators and measured indicators to cells of the field array, respectively. The yield model determines a yield value for each cell of the yield array not including a mapped indicator using information included in the corresponding cells of the input array. The yield model generates a yield map using the determined yield values and the yield values in the yield array.La présente invention concerne un modèle de rendement qui génère une carte de rendement destinée à un champ agricole. Un système de mesure génère des indicateurs mesurés qui sont une mesure ou une quantification du rendement de culture dans le domaine agricole. Un système d'observation génère des indicateurs observés qui sont des ensembles de données agricoles spatiaux décrivant des caractéristiques observées du champ agricole. Pour générer la carte de rendement, le modèle de rendement génère un réseau de champs représentant le champ agricole. Le modèle de rendement génère un réseau d'entrée et un réseau de rendement en mettant en correspondance les indicateurs observés et des indicateurs mesurés avec les cellules du réseau de champs, respectivement. Le modèle de rendement détermine une valeur de rendement pour chaque cellule du réseau de rendement ne comprenant pas un indicateur mis en correspondance à l'aide d'informations comprises dans les cellules correspondantes du réseau d'entrée. Le modèle de rendement génère une carte de rendement à l'aide des valeurs de rendement dé
