您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE INCLUDING THE SAME
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.;SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.;삼성전자주식회사
发明人:
LEE, SEUNG JUN,이승준,KIM, DONG HO,김동호,BAE, JUNG MOK,배정목,SHIN, EUI SEOK,신의석,LEE, WOO CHANG,이우창,LEE, SEUNG JUNKR,KIM, DONG HOKR,BAE, JUNG MOKKR,SHIN, EUI SEOKKR,LEE, WOO CHANGKR
申请号:
KR1020150163602
公开号:
KR1020170059338A
申请日:
2015.11.20
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
Disclosed are an optical measuring device and an electronic device including the same. The optical measuring device according to an embodiment of the present invention comprises a light source, a light beam path adjuster, a light detector, and a controller. The light source emits measuring light in a predetermined traveling direction. The light beam path adjuster can change a traveling path of the measuring light which is emitted from the light source and enters an object to be measured, and the light detector receives the measuring light reflected from the measured object after passing through the light beam path adjuster. Furthermore, the controller compares the length of a first effective light path of the reflected light received by the light detector with the length of a predetermined target light path, and controls an operation of the light beam path adjuster to match the length of a second effective light path of reflected light by subsequent measuring light with the length of the target light path.광학 측정 장치 및 이를 구비한 전자 기기가 개시된다. 일 실시예에 따른 광학 측정 장치는 광원(light source), 광경로 조정기(light beam path adjuster), 광 검출기(light detector) 및 제어기(controller)를 포함한다. 광원은 소정의 진행 방향으로 측정광을 조사하며, 광경로 조정기는 광원으로부터 조사되어 피측정 대상으로 입사되는 측정광의 진행 경로를 변경시킬 수 있다. 그리고 광 검출기는 상기 광경로 조정기를 통과한 측정광이 상기 피측정 대상으로부터 반사되어 나오는 반사광을 수신한다. 또한, 제어기는 광 검출기가 수신한 반사광의 제1 유효 광로 길이와 기설정된 타깃 광로 길이를 비교하여, 후속 측정광에 의한 반사광의 제2 유효 광로 길이가 타깃 광로 길이와 일치하도록 광경로 조정기의 동작을 제어한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充