在通过微波测温的核磁共振检查中的特定吸收率估计

• 收藏
• 分享

专利权人:

西门子公司

发明人:

乔格.U.方蒂厄斯

申请号：

CN201110081443.4

公开号：

CN102232832B

申请日:

2011.04.01

申请国别(地区):

CN

年份:

2016

代理人:

摘要：

本发明涉及用于测量磁共振断层成像设备(1)内的检查对象(5)的温度空间分布以及SAR空间分布的方法和设备，其中，提供了用于借助于微波测量温度的微波温度传感器(T)。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/